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描述：XK-DZW-I 電阻溫度性測(cè)定儀采用的電子﹑數(shù)控，用于測(cè)試各種導(dǎo)電材料介質(zhì)（電阻）的阻值隨溫度變化的值，通過(guò)繪制電阻，溫度曲線，可以直觀地定性分析電阻溫度變化率。適用于大院校電子材料實(shí)驗(yàn)室等的研究和各教學(xué)演示用。
廠商性質(zhì)
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詳細(xì)介紹
| 品牌 | 恒奧德 |
|---|
XK-DZW-I 電阻溫度性測(cè)定儀
XK-DZW-I 電阻溫度性測(cè)定儀采用的電子﹑數(shù)控，用于測(cè)試各種導(dǎo)電材料介質(zhì)（電阻）的阻值隨溫度變化的值，通過(guò)繪制電阻，溫度曲線，可以直觀地定性分析電阻溫度變化率。適用于大院校電子材料實(shí)驗(yàn)室等的研究和各教學(xué)演示用。
主要參數(shù)
（１） 溫度范圍：室溫－130℃ （zui可達(dá)300℃）
（２） 電阻范圍：0－1ＭΩ
（３） 加熱率：0－300Ｗ可調(diào)
（４） 電源：220Ｖ±10％ 頻率：50Ｈｚ
（５） 環(huán)境溫度：0－40℃
（６） 環(huán)境濕度：≦85％
（７） 外形尺寸：560×530×400mm
2.
 | 產(chǎn)品名稱：智能數(shù)字壓力校驗(yàn)儀 產(chǎn)品型號(hào)：JH-HR-YBS-DB |
智能數(shù)字壓力校驗(yàn)儀 型號(hào)：JH-HR-YBS-DB
| 型號(hào) | 測(cè)量范圍（℃） | 示度%FS（保證溫度范圍℃） |
| K | -270～1360 | ±（0.005% RD+0.005% FS）（-150～1360） |
| N | -270～1280 | ±（0.005% RD+0.005% FS） （-100～1280） |
| R | -50～1760 | ±（0.005% RD+0.005% FS） （50～1760） |
| S | -50～1760 | ±（0.005% RD+0.005% FS） （50～1760） |
| T | -270～400 | ±（0.005% RD+0.005% FS） （-100～400） |
| B | 50～1800 | ±（0.005% RD+0.005% FS） （500～1800） |
| E | -170～1000 | ±（0.005% RD+0.005% FS） （-150～1000） |
| J | -210～1200 | ±（0.005% RD+0.005% FS） （-150～1200） |
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